全自動測厚儀MX1100

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更新時間：2017-07-05
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用于測量薄膜和紙張厚度的全自動測厚儀
符合 ASTM D 374, TAPPI T-411, BS 2782-6, DIN 53370等標(biāo)準(zhǔn)

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全自動測厚儀

型號：MX1100

用于測量薄膜和紙張厚度的全自動測厚儀

符合 ASTM D 374, TAPPI T-411, BS 2782-6, DIN 53370等標(biāo)準(zhǔn)

操作簡單
3種操作模式：可作為獨(dú)立手動系統(tǒng)操作；也可通過打印機(jī)，打印出測試結(jié)果；或者與軟件連接，自動生成圖表和統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

多點(diǎn)測試和分析
MX1100通過測量頭做多點(diǎn)測試，也可以自動循環(huán)升降做單點(diǎn)測試。，其他型號可進(jìn)行多點(diǎn)或單點(diǎn)測試來滿足抽樣調(diào)查和概要分析。

實(shí)惠的價格

MX系列產(chǎn)品物美價廉，性價比高

行業(yè)的升級版軟件
選配的軟件，內(nèi)置打印機(jī)，電腦系統(tǒng)都是可升級的。打印機(jī)適用于在數(shù)顯或軟件模式下操作。自帶Windows™ 95/98/NT/2000/XP系統(tǒng)的軟件能夠自動生成統(tǒng)計報告和圖表分析，包括極大值，極小值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)差，計數(shù)值。

技術(shù)規(guī)格
操作模式:	單機(jī)試驗(yàn) / 聯(lián)機(jī)試驗(yàn)
樣品材料:	所有薄片狀材料
測量范圍（選擇其一）:	0 - 50 mil, 0 - 100 mil, 0 - 200 mil, 0 - 300 mil 0 -1270 um, 0 - 2540 um 0 - 5080 um, 0 - 7620 um 訂做其他測量范圍，請在訂購時說明
分辨率:	0.01 mil （0.1 um）（0.0001 mm）
精度:	±0.02 mils （±0.50 um）（±.0005 mm） / （±20 microinch）
平行距離:	±40 microinches或以上（±1.0 micron 或以上）
測量頭尺寸:	0.188 inch 直徑（4.3 mm直徑）（薄膜） / 0.628 inch直徑（15.9 mm 直徑）（紙張r）
測量頭壓力:	4.0 - 8.0 psi （0.562 kg/cm2）（薄膜） / 7.3 psi （0.513 kg/cm2）（紙張）
測量頻率:	可達(dá)到 60次/分鐘
zui低速率:	0.040 inch/sec. （1mm / sec）（紙張）
響應(yīng)時間:	3 ± 1 seconds
驅(qū)動:	N/A
數(shù)據(jù)顯示:	厚度數(shù)據(jù)
數(shù)據(jù)輸出:	RS-232接口可連打印機(jī)或電腦